SiC-beschichtete Wafer-Susceptor
Quick Detail:
Zweck: Speziell fir Hallefleiter-CVD (1000°C - 1400°C) an PVD-Héichtemperaturprozesser entwéckelt, bitt et eng stabil Ënnerstëtzungsplattform fir Waferen.
Kärparameter: Uewerflächenrauheet Ra < 0.5 μm; héich Häert (>2500 HV); den thermeschen Ausdehnungskoeffizient (CTE) ass präzis ugepasst (≈ 2.6 x 10⁻⁶/K), wouduerch d'Verkrampfung oder d'Verrutschung vun de Wafer duerch thermesch Belaaschtung komplett eliminéiert gëtt.
Beschreiwung
Semixlab bitt héich performante Wafer-Susceptoren. Dëst Produkt gëtt haaptsächlech a Hallefleeder-CVD-PVD-Ausrüstung benotzt, fir Waferen z'ënnerstëtzen an all Schued a versehentlech Fäll duerch Stickstofffloss ze vermeiden.
SiC-beschichtete Siliziumcarbid-Basis (SiC-beschichtete Susceptor) gëtt wäit verbreet an Halbleiter benotzt wéinst senge Eegeschafte wéi Héichtemperaturbeständegkeet, Korrosiounsbeständegkeet, héijer Rengheet a manner Verschmotzung vun de Waferen.
Applikatioun:
Speziell fir Hallefleiter-CVD (1000°C - 1400°C) an PVD-Héichtemperaturprozesser entwéckelt, bitt et eng stabil Ënnerstëtzungsplattform fir Waferen.

Kärfeatures:
Aussergewéinlech Héichtemperaturstabilitéit: Widderstandsfäeg extremen Temperaturen iwwer 1400°C, wat eng präzis Waferpositionéierung ouni Ofwäichung garantéiert.
Super staarke Schutz: Widdersetzt effektiv den Impakt vun engem Stickstoffstroum >10 m/s a versehentleche Fäll, a bitt maximalen Schutz fir de Wafer.
Aussergewéinlech Haltbarkeet: D'SiC-Beschichtung bitt eng héich Häert (>2500 HV) a Korrosiounsbeständegkeet, wat d'Liewensdauer verlängert.
Héichrein Uewerfläch: Uewerflächenrauheet Ra < 0.5 μm, wat de Risiko vun enger Partikelkontaminatioun reduzéiert.

Siliciumbasis (Silicon Susceptor)
Uwendung: Gëeegent fir Héichtemperaturprozesser vu Siliziumwaferen mat extrem héijen Ufuerderungen un d'thermesch Anpassung (wéi z.B. epitaktesch Wuesstem, <1200°C).
Kärfeatures:
● Perfekt thermesch Upassung: Am Aklang mam Wafermaterial (monokristallint Silizium) ass den thermeschen Ausdehnungskoeffizient (CTE) präzis ugepasst (≈ 2.6 x 10⁻⁶/K), wouduerch Verzerrung oder Verrutschen vum Wafer duerch thermesch Belaaschtung komplett eliminéiert gëtt.
● Schnell Liwwerung: De Liwwerzyklus vu Standardprodukter gëtt däitlech verkierzt, op nëmmen 4-6 Wochen (am Verglach zu 8-12 Wochen fir SiC-Basen).
● Héich Rengheet: Entsprécht de Standarden vun Halbleiter-Siliziummaterialien.
● Uewerflächenqualitéit: Präzis poléiert, Uewerflächenrauheet Ra < 0.2 μm.

Spezifikatioune
| Basis kierperlech Eegeschafte vun CVD SiC Beschichtung | |
| Property | Typesche Wäert |
| Kristall Struktur | FCC β Phase polykristallin, haaptsächlech (111) orientéiert |
| Dicht | 3.21 g / cm³ |
| Hardness | 2500 Vickers Hardness (500g Laascht) |
| Käre Gréisst | 2 ~ 10μm |
| Chemesch Reinheet | 99.99995% |
| Hëtzt Kapazitéit | 640 J·kg-1·K-1 |
| Sublimatioun Temperatur | 2700 ℃ |
| Flexural Kraaft | 415 MPa RT 4-Punkt |
| Young's Modulus | 430 Gpa 4pt Béi, 1300 ℃ |
| Thermesch Leitung | 300W·m-1·K-1 |
| Thermal Expansioun (CTE) | 4.5 × 10-6K-1 |
Applicatioun
SiC epitaktesch Schichtwuesstumsgrafitsusceptor.
Gasinlaafdiversioun a thermesch Feldkontroll an engem SiC epitaktischen Wuesstumsuewen.
Semixlab Produktshop


EN
EN
DA
NL
FI
FR
DE
IT
JA
KO
NO
PL
PT
RO
RU
ES
SV
TL
ID
SK
UK
VI
TH
TR
FA
BE
LA
UZ




